杂散光是光谱仪的一个关键参数,可以定义为到达探测器并触发信号的所有不需要的波长的辐射。
进入光谱仪的多色辐射在到达探测器之前要经过多个光学元件。由于组成光谱仪的所有元件都不理想,到达探测器并勾勒出工作光谱范围的辐射可能会受到杂散光的污染。

杂散光如何影响吸光度?
杂散光可能是光谱仪整个光谱范围内的问题,但是,当我们接近紫外线范围(190-350 nm)时,杂散光会变得非常强烈。使用紫外/可见光谱时,杂散光会在测量的吸光度值中引入误差。
由于杂散光的增加,吸光度读数开始下降,并导致比尔-朗伯定律的负偏差。杂散光可能是由环境光散射、高强度光源、不完美光学元件(镜子和衍射光栅的质量)的散射光或光谱仪非光学元件的反射引起的。
杂散光的原因是什么?
杂散光可能是由环境光散射、高强度光源、不理想光学元件(镜子和衍射光栅的质量)的散射光或光谱仪非光学元件的反射引起的。
反射面的不规则性是光学元件中常见的缺陷类型之一。这些元件的生产过程对光谱仪中产生低杂散光水平有很大影响。全息光栅产生的杂散光比刻划光栅少得多,因为生产这些类型的光栅的工艺不受机械不规则性的影响。
在诸如拉曼光谱等光谱应用中,信噪比至关重要,因此通常选择全息光栅。
如何减少杂散光
为了大幅减少杂散光,Sarspec 专家同时优化了光谱仪的光学和机械设计。通过使用对称的 Czerny-Turner 配置和光学以及非光学元件,可以在 Sarspec 光谱仪的整个动态范围内将杂散光水平降低到 0.1% 以下。