2DQuick IR 旨在使用阵列检测器收集高质量的 2D 红外光谱。该光谱仪采用中红外脉冲整形技术和单色仪阵列检测,可快速收集数据并实现高信噪比。
产地:美国
重复率:≤ 100 kHz
建议脉冲能量:≥ 8 μJ @ 1 kHz
≥ 1 μJ @ 100 kHz
输入偏振:线性,水平
输入光束尺寸 (1/e^2):7 mm,准直
泵浦探测延迟:> 150 ps
标准 AR 涂层:2.6 - 10 μm(1000 - 3850 1/cm)(其他波长范围可根据要求提供)
光谱窗口:> 1.5 μm at 5.5 μm
光谱分辨率:< 5 1/cm at 5.5 μm
双脉冲延迟max.:> 5 ps1 at 5.5 μm
底座尺寸:18.0 x 39.0 x 6.3 英寸(45.7 x 99.1 x 16.1 厘米)
带单色仪和探测器尺寸:约49.8 x 21.4 x 9.5 英寸(约 127 x 54 x 24 厘米)
