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产品介绍
标准延迟线探测器 (DLD) 已经结合了广泛的应用。与其他技术（例如象限阳极、电阻屏阳极、CCD 相机）相比，延迟线技术的限制要少得多。没有其他技术能够提供如此广泛的参数，如高粒子率、高位置分辨率和低死区时间。借助 RoentDek HEX 探测器，延迟线技术已达到新的水平。从历史上看，它们是为同时和无死区时间检测多个电子而开发的。到目前为止，没有其他探测器概念在具有零死区的多重命中性能方面接近。
RoentDek HEX 探测器有各种尺寸，从 40 毫米有效面积到 120 毫米有效直径 - 既可以作为单个设备，也可以作为完整系统的一部分，其中包括一整套所需的电子设备和完整的软件解决方案（包括对 LabView 的支持）。
RoentDek 始终专注于多粒子检测（例如，记录完整分子碎片所需的检测）。硬件和软件中的死区时间（min）和多次命中能力是我们理念的基本部分。
性能特点
- 多粒子检测。
- 零死区时间（如果粒子间隔至少 10 毫米）。
- 改进的图像线性。
- 对实现的位置分辨率进行内在诊断在线控制。
- 可提供中心孔。
技术参数
产地：德国
设计：3 层
粒子速率：超过 1 MHz
检测：多粒子
absolute检测效率：81%
位置分辨率：17 至 45 µm（RMS）
定时TOF分辨率：25 至 100 ps（RMS）
有效面积：40 毫米
有效直径：120 毫米
探测类型：标准延迟线
死区时间：零
产品应用
原子/分子物理学
动量光谱（例如 COLTRIMS 反应显微镜）
激光和同步加速器测量
VMI
与其他探测器的巧合测量
苏州长显