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高性能的成像色度计，强化了CMOS图像传感器和高性能光谱辐射计的性能，可广泛测量显示器、背光模块、光源及相关产品，快速、高精度地测量亮度、相关色温 (CCT)、CIE XYZ、Yxy、u'/v' 色度、均匀性和 MURA。该系统尤其适用于测试和表征各种显示技术，包括 LCD、OLED、miniLED、microLED 和 microLED 晶圆芯片。
我们开发了计算方法来分析从光学传感中获得的数据，并运用信号处理技术来提高测量精度。UPRtek 的 MA 系列成像色度计采用参考高性能光谱仪和我们自主研发的算法，确保色彩的准确性、易操作性和高效性，该算法可直接从 PC 软件校准 XYZ 滤镜（位于色轮上）和相机。
- 亮度 (cd/m²)、CIE 色度 (x, y, u’, v’, XYZ)、相关色温 (CCT)(K)、duv、λD (nm) 的二维图像测量。
- 亮度均匀性、色度均匀性及亮度分布图
- CCD 与可选光谱仪的对准精度更高
- PC 软件控制自动对焦
- 高速测量（每次采集约 1~2 秒）
- 宽动态测量范围，高达 50 万 cd/m² 或更高，高达 1 亿 cd/m²
- MURA 测量和 BlackMura 检测（可选 PC 软件）
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产地 |
中国台湾 |
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总分辨率 |
12MP |
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有效图像 (H x V) |
4,096(H) x 3,000(V) |
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像素尺寸 (μm) |
3.4 (H) x 3.4 (V) |
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镜头 |
35mm / 18mm / 50mm / 100mm / 2X, 3X, 5X 镜头 |
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传感器 |
CMOS 传感器 |
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测量范围 |
0.01 cd/m2至 500,000 cd/m2/ 65MP |
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高达max.100M cd/m2 |
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*订购前可延长亮度测量范围。 |
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测量速度 |
30 μs 至 10 秒 |
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常规测量时间为 100 尼特显示屏@ W255，约 1 至 2 秒 |
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以太网 |
100/1000 和 RS232 转 USB2.0 接口 |
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PC 软件 |
1) 标准软件 (uImage) |
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2) 客户自有工具开发库 |
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系统精度 |
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1) 亮度 |
± 1.5%；与 UPRtek 标准光源的 Extra 光谱辐射计相比 |
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2) 色度 |
± 0.0010；与 UPRtek 标准光源的 Extra 光谱辐射计相比 |
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重复性 |
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1) 亮度 |
± 0.2%；与 UPRtek 标准光源的 Extra 光谱辐射计相比 |
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2) 色度 |
± 0.0005；与 UPRtek 标准光源的 Extra 光谱辐射计相比 |
苏州长显