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ProView XD 是一款先进的干涉仪，可准确测量和检测直径为 220 至 1200 µm 的光纤端面。该干涉仪专为需要简单、快速且高精度端面检测的生产线而设计。此外，ProView XD 也非常适合研发环境和连接器维护。在许多情况下，干涉条纹图的分析和理解可能非常复杂。为了方便使用并实现更快地检测速度，ProView XD 配备了先进的全自动功能，可对端面进行二维和三维形貌分析。软件会自动显示端面的半径和角度。
为了进一步简化检测流程，ProView XD 可设置为“通过/失败”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码轻松判断端面质量。除了角度和半径检测外，ProView XD 还可用于测量其他一些属性，例如光纤直径和选择点之间的距离等。
ProView XD 连接器专用产品预装了标准 SMA、FC/PC、ST/PC 或 LD80 连接器支架。此外，还可选配通用 V 型槽夹具组件，用于裸光纤检测。我们可根据客户需求提供定制支架或夹具。
ProView XD 设计紧凑，非常适合安装在生产工作台上，并可与切割器、抛光台、超声波清洗器和其他准备工具配合使用。ProView XD 通过 USB 3.0 数据线连接并供电，并由外部 PC（不包含在内）控制。
- 适用于直径为 220 至 1200 μm 的端面
- 2D 和 3D 形貌
- PC 控制器 GUI 中的条纹和检测模式
- 通过自动角度估算实现极快的检测速度
- 可选使用 PASS/FAIL 半径和角度指示
- 检测端面特性，例如平整度、垂直度、毛刺和污染
- 抓取并保存 2D、3D 图像和连接器数据
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产地 |
瑞典 |
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光纤直径 |
220 µm – 1200 µm |
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视场 |
~1300 µm |
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分辨率 |
2560 x 1920 (4.92 MP) |
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传感器 |
CMOS（单色） |
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图像文件格式 |
JPEG、PNG、TIFF、GIF |
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峰谷高度 |
15 µm |
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角度，220 µm 光纤 |
max. 3.9° |
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角度，400 µm 光纤 |
max. 2.1° |
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角度，720 µm 光纤 |
max. 1.2° |
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角度，1200 µm 光纤 |
max. 0.7° |
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Abs.精度 |
0.03° 标准差(<400 µm，ROI = 90%) |
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0.02° 标准差(>400 µm，ROI = 90%) |
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相对精度 |
5% max.2° |
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电脑 |
搭载 Intel i5 处理器（或更高配置）的 PC |
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USB |
一个空闲的 USB 3.0 端口（超高速） |
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内存 |
4 GB RAM（建议 16 GB RAM） |
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磁盘空间 |
100 MB（建议 500 MB） |
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操作系统 |
Windows 8/8.1/10 64 位（.NET Framework 4.8 或更高版本） |
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显卡 |
支持 3D 图形（建议使用专用 GPU） |
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显示分辨率 |
1920 x 1080（建议使用双显示器系统） |
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输入设备 |
键盘和三键滚轮鼠标（或同等设备） |
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尺寸 |
86(W) x 127(D) x 93(H) mm |
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86(W) x 140(D) x 97(H) mm（含调焦旋钮和橡胶脚垫） |
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重量 |
1.2 kg |
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电源 |
USB 接口 |
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PC 连接 |
高速 USB (USB 3.0) Type-A 接口，带 2 米线缆 |
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工作温度 |
10 °C ~ 40 °C |
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储存温度 |
-20 °C ~ 50 °C |
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湿度 |
5% ~ 95% RH（无凝结） |
苏州长显