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FRAUNHOFER三维光散射测量系统ALBATROSS-TT
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- 品牌名称：FRAUNHOFER
- 规格型号：ALBATROSS-TT
- 产品资料：FRAUNHOFER三维光散射测量系统ALBATROSS.pdf
产品介绍
ALBATROSS仪器可在紫外到红外光谱区域的多种激光波长下工作，并可在三个空间方向上进行角度分辨散射（ARS）和偏振相关的测量。该装置甚至适用于几何形状复杂、尺寸可达500毫米的大型元件。它可以研究从粗糙加工到超光滑光学表面的各种情况。在相同的波长范围内，TScatt系统可根据ISO 13696标准，用于测量后向散射和前向散射方向的总散射（TS）。
性能特点
- 全三维空间测量
- 高灵敏度（动态范围高达15个数量级，背景散射<0.05 ppm）
- 粗糙度测定精度达1 nm（均方根值）
- 多种操作模式的组合（散射、反射、透射、光栅效率、2Θ等）
- 波长范围：5 nm至10.6 μm
- 可测量表面、界面和体散射
技术参数
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产地 |
德国 |
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光散射测量 |
ARS、BRDF、BTDF、散射损耗，0-20°，R 和 T |
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测量能力 |
完整的 3D 球面 |
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调节 |
入射角、散射角（方位角和极角）、波长和偏振 |
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扫描 |
样品表面区域光栅扫描 |
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台式机占地面积 |
< 1 m³ |
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动态范围 |
高达 15 个数量级 |
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背景 ARS |
低至 1×10-9sr-1 |
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等效粗糙度灵敏度 |
< 0.1 nm |
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波长 |
320 nm、405 nm、532 nm、633 nm、640 nm、808 nm 和 1064 nm（其他波长可按需定制） |
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光纤端口 |
用于耦合外部光源（例如可调谐超连续谱光源） |
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软件 |
测量控制和数据分析 |
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分析工具 |
粗糙度、PSD 等 |
产品应用
表面、涂层和材料表征：
质量控制、外观
光学性能
粗糙度分析
苏州长显