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产品介绍
AltiSurf 500 是 AltiSurf 系列的畅销产品。这款计量站融合了新的光学点或线传感器技术。无论您需要分析的材料种类繁多（金属、玻璃、纺织品等），还是需要进行质量控制（粗糙度、形状、尺寸），这款仪器都能满足您的实验室测量需求。
AltiSurf 500 的模块化架构及其丰富的可选配置，可为您提供自动化生产控制和实验室表征的一站式解决方案。
性能特点
- 可测量各种表面（粗糙、透明、黑色、抛光……）
- 测量范围和技术选择丰富（共焦、干涉、接触式）
- 光学测量：对被测部件无损伤
- 测量区域100x100x100mm
- 每个测量点分辨率相同 – 数据精度高
- 相机与另外两个传感器自动切换
- 内置测量协议
- 易于使用的界面：协议自动化
技术参数
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产地 |
法国 |
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测量原理 |
非接触式、光学式，基于共焦技术 |
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色差技术、干涉法及其他 |
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测量体积（X x Y x Z） |
100mm x 100mm x 100mm |
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平台移动速度 |
可达 100mm/s |
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平台平面度（校正后） |
2 µm/100mm（小于 1 µm/100mm） |
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测量范围 |
100µm 至 25mm |
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Z 轴分辨率 |
低至 2nm |
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横向分辨率 |
0.7µm |
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测量角度 |
可达 90° ± 45°（可选旋转轴） |
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台阶高度精度（1µm） |
0.005% |
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可测量粗糙度（Ra / Sa） |
20nm / 20nm |
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可测量厚度 |
1µm |
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标准 |
ISO 4287、ISO 25178 |
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采集软件 |
Phénix V2 |
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分析软件 |
PhénixMap |
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