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产品介绍
S&I 的 DuoVista 系统提供宽广的光谱工作范围和成像质量（DM55 和 DM77），以及多种光栅组合，可实现从 180 nm 到 75 µm 的光谱工作范围。在大多数应用中，DuoVista 系统可作为可调谐带通滤波器，提供高的效率和强杂散光抑制。
通过双倍色散实现低至几皮米的高分辨率，结合 Princeton Instruments 成像校正型 SpectraPro HRS 单色仪高的成像质量，可为多轨应用提供高成像质量。
可根据客户需求定制的配置方案，使其能够轻松适应各种不同的应用。
性能特点
- 光谱范围从深紫外到红外（180 nm 至 75 µm）
- 杂散光抑制能力强
- 可互换光栅转塔
- 每个转塔配备 3 个光栅
选型指南
DM33i – 入门级带通滤波器，提供中高分辨率和良好的杂散光抑制
DM55i – 带通滤波器，配备成像质量更高的单色仪
DM77i – 双单色仪系统的理想之作，拥有高分辨率和杂散光抑制能力
技术参数
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产地 |
德国 |
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焦距 |
2 x 300 mm |
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光学系统 |
加法和减法双切尔尼-特纳光栅。 |
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成像校正光学系统，实现高通量和多源输入。 |
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扫描系统和控制 |
通过 USB 2.0 进行计算机控制的直接数字扫描。 |
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入射/出射狭缝位置 |
标配 180° 直通光路。可选 90° 或 90° + 180° 光路。 |
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波长范围 |
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机械扫描范围 |
0 至 2200 nm |
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工作范围 |
200 nm 至 2200 nm |
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系统通量取决于所选光栅。 |
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总工作范围 |
深紫外至红外，可通过选择可用光栅实现。 |
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杂散光抑制 |
10-9或更优 |
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光圈比 |
f/4 |
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驱动步长 |
0.0025nm（标称值） |
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波长重复性 |
±0.025nm 或更优 |
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分辨率（半峰全宽） |
0.05nm |
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倒数线性色散（标称值） |
1.35nm/mm |
苏州长显